檢(jiǎn)查頭(tóu)
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2d檢查頭(tóu)(a)
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2d檢查頭(b)
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分(fèn)辨率(lǜ)
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18 μm
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9 μm
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視 野 (mm)
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44.4 × 37.2
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21.1 × 17.6
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檢查
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錫膏(gāo)檢查(chá)*11
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0.35 s/視野(yě)
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處理(lǐ)時間
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元件檢查(chá)*11
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0.5 s/視野(yě)
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檢查
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錫膏(gāo)檢查*11
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芯片(piàn)元件: 100 μm × 150 μm以上(shàng)(0603以上)
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芯片(piàn)元件:80 μm × 120 μm以(yǐ)上(0402以上(shàng))
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對象
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封(fēng)裝元件(jiàn): φ150 μm以(yǐ)上
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封裝(zhuāng)元件: φ120 μm以上
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檢查項目(mù)
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元件檢查(chá)*11
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方形(xíng)芯片(piàn)(0603以上)、sop、qfp(0.4 mm間距(jù)以上)、csp、bga、鋁電(diàn)解電(diàn)容器、可調電阻(zǔ)、微調電容器、線圈、連(lián)接器(qì)*12
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方形(xíng)芯片(0603以(yǐ)上)、sop、qfp(0.4 mm間距(jù)以上(shàng))、csp、bga、鋁電解電(diàn)容器、可調(diào)電阻(zǔ)、微調(diào)電容器、線(xiàn)圈、連接器*12
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錫膏(gāo)檢查*11
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滲(shèn)錫、少錫(xī)、偏位、形狀異常(cháng)、橋接
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元(yuán)件檢查(chá)*11
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元件有(yǒu)無(wú)、偏位、正反(fǎn)面颠倒、極性不同(tóng)、異物檢(jiǎn)查 *13
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檢(jiǎn)查(chá)位置精(jīng)度(dù)(cpk≧1)*14
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± 20 μm
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± 10 μm
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檢查點數
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錫(xī)膏檢查*11
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max. 30 000 點(diǎn)/設備(bèi)(元件(jiàn)點數(shù): max. 10 000 點/設(shè)備)
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元件(jiàn)檢查*11
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max. 10 000 點(diǎn)/設備(bèi)
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